第28回技術座談会開催のご案内
「SoC設計VLSIにおける診断技術」

技術座談会は、OACISの活動の一つで、特定のテーマについて議論するもので、2ヶ月に1回程度開催します。 大学側からは1ないし2研究室の研究内容を紹介し、大学と企業の連携について自由な議論をする場です。より議論を深めるため、小規模な参加者で行います。 　第28回技術座談会は、「SoC設計VLSIにおける診断技術」をテーマに開催致します。品質管理ならびに歩留り向上は、超大規模集積回路 (VLSI) に限らず、全ての工業製品の生産に共通した非常に重要な問題であり、診断技術はこれらのキーとなる技術です。VLSIの高集積化により、機能ブロック設計 資産 (IP: Intellectual Property) を１チップ上に集積してシステムを実現するシステムオンチップ (SoC: System on Chip) が可能となりましたが、その診断は益々困難になっています。今回の座談会では、SoC設計VLSIを診断する為の様々な技術について、最近の動向や当研究 室の研究内容を交じえてご紹介します。 　下記のような方々にご出席頂ければ幸いです。 VLSI診断技術全般について、概要を知りたい方 SoC設計VLSIの診断技術について、最近の動向を知りたい方 レイアウトデータしか提供されない機能ブロックIPの診断手法に興味のある方 大学で研究し、博士号を取得したい (させたい) 方 講師： 大阪大学大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻 教授 中前 幸治 助手 三浦 克介 (http://www-ise3.ist.osaka-u.ac.jp/) 内容： 「SoC設計VLSIにおける診断技術」 　VLSIの高集積化に伴い、従来は複数の部品をプリント基板上に実装して実現していたシス テムを1チップのVLSI上に実装したSoCが可能となり、更なる機器の小型化・高性能化が実現しています。SoCでは、開発期間の短縮の為、過去の設計 資産を活用し、開発済みの機能ブロックIPを用いて設計が行われますが、ブラックボックス化された IP を利用することは、複雑なシステムの設計を容易にする半面、診断を極めて困難にしてしまいます。 　今回の座談会では、SoC設計VLSIを診断する為の様々な技術について、最近の動向や当研究室の研究内容を交じえてご紹介します。講演内容は、下 記の通りです。 VLSI故障診断技術の概要 SoC設計VLSIの診断に関する最近の動向 レイアウトデータしか提供されない機能ブロックIPの、レイアウトデータ抽出ネットリストを用いた 故障診断手法 開催 日時： 平成18年10月31日（火） 座談会 15:00〜17:00 懇親会 17:00〜18:00 個別の議論の場として懇親会を開催しますので，こちらへのご参加もよろしくお願いします． 場所： 　座談会：大阪商工会議所 地下1階2号A 会議室 　交流会：同上 　(http://www.osaka.cci.or.jp/Shoukai/Map_Tel/shozaichi.html) 　(〒540-0029　大阪市中央区本町橋２番８号) 参加対象： ＩＴ連携フォーラムＯＡＣＩＳ（http://www.oacis.jp/）会員企業・団体に属する方および参加希 望企業の方．      **なお会場の都合上，参加は先着順30名とさせて頂きま す． 申し込み方法：     下記の内容をメールでregistration_zadankai28にご送付ください． 内容に関する問い合わせ先：     大阪大学 大学院情報科学研究科 情報システム工学専攻　三浦克介（miura）

-----------第28回技術座談会申し込み様式-------------------------------
第28回　技術座談会（「SoC設計VLSIにおける診断技術」）

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参加目的：下記のどれかに○をつけてください（複数可）。

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